LIMITES DE CONTROL PARA GRAFICO XR

A continuación les mostraremos una gráfica de limites de control echas por  excel  con datos aleatorios.

Despues calculamos  la media, el rango, UCLR, CLR,  y LCLR.

Ya teniendo los datos y calculando todo ahora si pasamos a realizar la gráfica

GRAFICO TIPO C

Ademas de la variable espesor de la oblea de silicio existen otras que determinan la cantidad del producto, en la fabricación de semiconductores. Otra variable de interés es el numero de in-perfecciones por unidad, se toma una muestra de 30 piezas, una cada hora, los resultados del muestreo se encuentran el siguiente  tabla.

6      13      9      6     17     10

10    14     17    15     8      16

14    17     20    14     5      14

5       9       8     10    15     17

18    14     21     8      9      11

GRAFICO TIPO P

DATOS AGRUPADOS

HOJA DE CONTROL CORREGIDA

A continuación les mostraremos otra hoja de control donde encontramos un para de errores con los cuales nos es difícil poder llenarlo y comprenderlo. En la parte superior de la hoja escribimos un par de notas donde escribimos los errores de esta hoja, los cuales son que no existe un apartado de sección, enntonces esto hace imposible el llenad correcto de la hoja.

Despues de haber "llenado" esta hoja de control realizamos 3 tablas pero una de ellas que es la de SECCION no la pudimos realizar.

TABLA DE FALLAS

TABLA DE MODELO

POSIBLE TABLA DE SECCIÓN

HOJA DE CONTROL CORRECTA 

DIAGRAMA DE ISHIKAWA

A continuación les mostraremos una presentación donde damos a conocer que es un diagrama de ishikawa y cuales son las 5 m. Posteriormente damos unos ejemplos del diagrama en 5 fallas que pueden existir en la fundición.

ACTIVIDAD 5

METODO DE CRAMER