GRAFICO TIPO C

Ademas de la variable espesor de la oblea de silicio existen otras que determinan la cantidad del producto, en la fabricación de semiconductores. Otra variable de interés es el numero de in-perfecciones por unidad, se toma una muestra de 30 piezas, una cada hora, los resultados del muestreo se encuentran el siguiente  tabla.

6      13      9      6     17     10

10    14     17    15     8      16

14    17     20    14     5      14

5       9       8     10    15     17

18    14     21     8      9      11